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초점을 맞춘 이온 빔은 밀링 및 뇌 조직의 전자 현미경을 스캐닝
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Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
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초점을 맞춘 이온 빔은 밀링 및 뇌 조직의 전자 현미경을 스캐닝

DOI:
10.3791/2588-v

•

08:57 min

•

July 06, 2011

•

, ,
1Centre of interdisciplinary electron microscopy,École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Capítulos

  • 00:05Título
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

이 프로토콜은 수지 내장 뇌 조직은 전자 현미경을 스캐닝, 초점을 맞춘 이온 빔의 3 차원에 준비하고 몇 군데 수있는 방법에 대해 설명합니다.

Tags

Focussed Ion Beam MillingScanning Electron MicroscopyFIB/SEM ProtocolAldehydes FixationHeavy Metal StainingOsmium TetroxideUranyl AcetateDehydrationResin InfiltrationUltramicrotomeGlass KnivesBlock PreparationVertical Face MillingBackscattered Electron ImagingSerial ImagingIsotropic VoxelsCell Ultrastructure Analysis

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