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ध्यान केंद्रित आयन बीम मिलिंग और मस्तिष्क के ऊतकों के इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी स्कैनिंग
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Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
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ध्यान केंद्रित आयन बीम मिलिंग और मस्तिष्क के ऊतकों के इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी स्कैनिंग

DOI:
10.3791/2588-v

•

08:57 min

•

July 06, 2011

•

, ,
1Centre of interdisciplinary electron microscopy,École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Capítulos

  • 00:05Título
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Tadução automática

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इस प्रोटोकॉल का वर्णन कैसे राल एम्बेडेड मस्तिष्क के ऊतकों और तैयार किया जा सकता है ध्यान केंद्रित आयन बीम में तीन आयामों में imaged, स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप.

Tags

Focussed Ion Beam MillingScanning Electron MicroscopyFIB/SEM ProtocolAldehydes FixationHeavy Metal StainingOsmium TetroxideUranyl AcetateDehydrationResin InfiltrationUltramicrotomeGlass KnivesBlock PreparationVertical Face MillingBackscattered Electron ImagingSerial ImagingIsotropic VoxelsCell Ultrastructure Analysis

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