크리스탈 샘플 자주 미크론 규모에이 표시합니다. Geoscience에서 미네랄, 그들의 결정 구조 및 2D 시스템에서의 위상 관계 식별 물리학 및 화학의 특정 시스템을 이해 하기 위한 중요 한 고 공간 해결, 양적 기법을 요구 한다. 예를 들어 미네랄 간의 관계 지역화 된 2D 영역 내에서 위상 분포에 따라 시험 될 수 있다. 이 역사와 바위 신체 내에서 발생 한 수 있습니다 화학 상호 작용에 대 한 의미를 가질 수 있습니다. 또는, 단일 광물 소재 구조는 시험 될 수 있다; 이 변형 미네랄 되었을 수도 있습니다 나는 현재 대상이 되 고 (예: 다이아몬드 모 루 세포 같은 장치와 함께 현장에서 변형 실험의 경우)의 종류를 결정할 수 있습니다. Geoscience, 이러한 분석 종종 에너지 또는 파장 흩어진 엑스레이 분광학 (E/WDS)와 전자 후방 산란 회절 (EBSD) 스캐닝 전자 현미경 (SEM)의 조합을 사용 하 여 수행 됩니다. 그러나, 샘플 준비 어려울 수 있습니다, 광범위 한 연마 및 진공 측정을 위해 장착. 또한, EBSD는 항상 융기, 침식, 또는 압축 경험 있을 수 있는 지질 자료의 경우는 비교적 unstrained 결정 필요 표면 기술입니다.

2D x 선 microdiffraction 및 XRF 매핑을 사용 하 여 공간 해결 특성화는 ALS의 beamline 12.3.2에서 사용할 수 있는 크리스탈 크기의 규모에는 단일 또는 다중 위상 시스템의 큰 지역 지도 만드는 빠르고 간단한 방법 한 수백 미크론 (의 경우 다 결정 견본) 몇 나노미터 이 메서드는 다른 일반적으로 사용 되는 기술에 비해 많은 장점이 있습니다. Microdiffraction 샘플과 주변 조건에서 측정 될 수 있다 따라서 하지 않아도 특별 한 준비 없이 진공 챔버로 EBSD, 다른 2D 크리스탈 매핑 기술을 달리. Microdiffraction는 그 어떤 심각한 긴장 또는 플라스틱 개 악 경험 뿐만 아니라 깨끗 한 결정을 위해 적당 하다. 샘플 같이 얇은 섹션 또는 일반적으로 시험 된다, 에폭시에 포함 된 자료는 불변 바위 또는 곡물. 데이터 수집, Laue 회절에 대 한 일반적으로 미만 0.5 s/픽셀 보다 작은 1 분/픽셀 분말 회절에 대 한 빠르고 XRF에 대 한 미만 0.1 s/픽셀입니다. 로컬 저장소에 일시적으로 그리고 더 영구적으로 국가 에너지 연구 과학적인 계산 (NERSC) 센터, 그것은 쉽게 다운로드 하는 데이터는 로컬로 저장 됩니다. 20 분 미만에 있는 NERSC 클러스터 또는 로컬 클러스터에 회절에 대 한 데이터 처리를 수행할 수 있습니다. 그러면 데이터 수집 및 분석, 빠른 처리와 큰 지역 측정 짧은 동안 실험실 계기에 비해 시간의 기간.

이 방법은 다양 한 응용 프로그램 및 사용 되었습니다 광범위 하 게, 특히 재료 과학 및 공학, 3D 인쇄에서 모든 것을 분석 금속^1,2, 태양 전지 패널 변형³, 변형 토폴로지 자료⁴, 메모리 합금 단계⁵, nanocrystalline 물자^6,7의 고압 동작을 전환합니다. 다양 한 석 영 샘플^8,9 화산 cementitious 프로세스^10,11, 그리고 또한 aragonite에 방해석 등 biominerals의 스트레인의 분석을 포함 하는 최근 geoscience 프로젝트 포탄과 산호^12,13 또는 치아¹⁴, 그리고 운 석 단계 유통, 새로운 무기물의 무기물 구조 식별에 대 한 추가 연구에서 인회석 및 고압에 플라스틱 개 악 응답 실리 카는 또한 수집 되었습니다. Beamline 12.3.2에서 사용 하는 기술 샘플, 광물 또는 petrological 지역 사회에서 사람에 게 관련의 광범위 한 범위에 적용 됩니다. 여기 우리 beamline 12.3.2, 및 geoscience 필드에 결합된 XRF 및 라우에/분말 microdiffraction 기술의 유용성을 입증 하기 위해 현재 여러 응용 프로그램에 대 한 데이터 수집 및 분석 프로토콜을 설명 합니다.

실험의 세부 사항에 나가기 전에, 그것은 끝 역의 설치 논의 밀접 한 관계 (참조 그림 1 과 그림 4 Kunz 외. ¹⁵). x 선 빔 저장 링을 종료 하 고 원환형 미러 (M201) 어떤의 목적은 실험 허 입구에 소스 촛점을 사용 하 여 감독 이다. 그것은 전달 롤 슬릿의 집합을 통해 기능 보조 소스 지점으로 합니다. 그것은 (또는 아닙니다) monochromatized 다음은 실험 종류에 따라 전에 슬릿의 두 번째 집합을 통해 전달 하 고 캠프 바에즈 (KB) 거울의 세트에 의해 미크론 크기에 집중 되고있다. 광선은 다음 그 신호 빔 강도 결정 하는 데 사용은 이온 챔버를 통해 전달 합니다. 이온 챔버에 연결 된 검출기에 impinging에서 흩어져 신호를 차단 하는 홀이 이다. 집중된 광선 다음 샘플을 발생할 수 있습니다. 샘플 8 모터의 구성 된 무대 위에 배치: 거친 (아래) x, y, z 모터, 벌금 (위) x, y, z 모터의 1 세트 및 2 개의 회전 모터 (Φ, χ)의 1 세트. 3 광학 카메라로 구상 될 수 있다: 하나 하나 높은 확대/축소, 이온 챔버의 상단에 배치 하는 낮은 확대/축소에서 평면에 배치 된 x 선 빔 및 두 번째 높은-줌 카메라를 약 45 ° 각도 t에 관하여 90 ° 각도에 배치 그는 엑스레이 광속. 이 마지막 것에 가장 적합 한 샘플을 수직 방향 (예: 전송 모드 실험), 이미징 pinhole에 연결 된 쐐기 모양의 거울을 사용 하 여 수행 됩니다. X 선 회절 검출기는 큰 회전 무대에 있으며 각도 검출기의 수직 변위를 제어할 수 있습니다. XRF를 수집 하는 실리콘 드리프트 검출기 존재 이기도 합니다. 샘플 관심 (ROI) 노출된 영역 평면 (마이크론 단위)에 어떤 방식으로 준비 하 고 발견 하거나 수 더 이상 ~ 50-100에서 x 선 구체의 테이프와 같은 투명 한 물자의 µ m.

아래 설명한 반사 기하학, 그리고 z 방향은 정상 샘플을 x와 y는 각각 가로 및 세로 스캔 방향 가정 실험을 설명 합니다. 그러나 무대와 검출기 시스템의 유연성 때문에, 몇 가지 실험에서에서 수행 전송 형상, 어디 x와 z 방향은 수평 및 수직 스캔 방향, y는 직접에 평행 빔 (잭슨 참조 그 외 여러분 ^{10 , 11})입니다.