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신경과학
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神经科学中透射电镜切片采样的一种无偏方法
JoVE 신문
신경과학
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JoVE 신문
신경과학
An Unbiased Approach of Sampling TEM Sections in Neuroscience
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神经科学中透射电镜切片采样的一种无偏方法
DOI:
10.3791/58745-v
•
10:56 min
•
April 13, 2019
•
Stefan Wernitznig
,
Florian Reichmann
,
Mariella Sele
,
Christoph Birkl
,
Johannes Haybäck
5
,
Florian Kleinegger
,
Anna Birkl-Töglhofer
,
Stefanie Krassnig
,
Christina Wodlej
,
Peter Holzer
,
Daniel Kummer
,
Elisabeth Bock
,
Gerd Leitinger
1
Department of Cell Biology, Histology and Embryology, Gottfried Schatz Research Center
,
Medical University of Graz
,
2
Department of Pharmacology, Otto Loewi Research Center
,
Medical University of Graz
,
3
Division of General Neurology, Department of Neurology
,
Medical University of Graz
,
4
Institute of Pathology
,
Medical University of Graz
,
5
Department of Pathology, Medical Faculty
,
Otto von Guericke University Magdeburg
Chapters
00:04
Title
01:02
TEM Preparation Embedding, Ultra-Thin Sectioning and Staining
02:05
Imaging of Corresponding ROIs on the Reference and Look-Up Sections on TEM with Software Packages
05:25
Analyze the TEM images with ImageJ to Document Ultrastructural Features
07:10
Using SerialEM Script to Optimize Elemental Analysis in Brain Samples in Combination with DigitalMicrograph
09:19
Results: Unbiased Approach of Sampling TEM Sections
10:25
Conclusion
Summary
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我们介绍了一种新的脑组织电子显微镜研究工作流程。该方法允许用户以无偏见的方式检查神经元特征。对于元素分析, 我们还提供了一个脚本, 该脚本自动化了随机采样的大部分工作流。
Tags
– Unbiased Sampling- Electron Microscopy- Neuroscience- Quantification- Numerical Density- Synapses- Neural Network- Sample Preparation- Ultramicrotome- Serial Sections- Slot Grid- Counterstaining- Transmission Electron Microscope (TEM)- TEM Serial Section Software- Region Of Interest (ROI)- Random Point Sampling
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