Journal
/
공학
/
Yüksek Sıcaklık Plazma Tanı olarak Kullanım için X-ışını Görüntüleme Kristal Spektroskopisi Uygulanması
JoVE 신문
공학
JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다.  전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
JoVE 신문 공학
Applying X-ray Imaging Crystal Spectroscopy for Use as a High Temperature Plasma Diagnostic
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Yüksek Sıcaklık Plazma Tanı olarak Kullanım için X-ışını Görüntüleme Kristal Spektroskopisi Uygulanması

11,158 Views

•

06:46 min

•

August 25, 2016

DOI:

10.3791/54408-v

DOI:
10.3791/54408-v

•

06:46 min
August 25, 2016

•

7 Views
, ,
1Department of Nuclear Science and Engineering,Massachusetts Institute of Technology, 2Department of Physics,Massachusetts Institute of Technology, 3Plasma Science and Fusion Center,Massachusetts Institute of Technology

Summary

Automatically generated

X-ışını spektrumları yüksek sıcaklık plazmalar hakkında bilgi bir zenginlik sağlar. Bu makale uzamsal bir tokamak plazmada orta atom numarası elemanlarının hidrojenkarbonat ve helyum gibi iyonları görüntülemek için kullanılan X-ışını spektrometresi görüntüleme yüksek dalga boyu çözünürlüğü çalışmasını sunuyor.

Explore More Videos

X-ray ImagingCrystal SpectroscopyPlasma DiagnosticsFusion PlasmaIon TemperatureRotation VelocityElectron TemperatureImpurity DensityTransport ModelingHIREXSRLaser Blow-offTokamak Plasma

Read Article

Cite this Article

Cao, N. M., Mier Valdivia, A. M., Rice, J. E. Applying X-ray Imaging Crystal Spectroscopy for Use as a High Temperature Plasma Diagnostic. J. Vis. Exp. (114), e54408, doi:10.3791/54408 (2016).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy