Journal
/
/
Odaklı İyon Işın Freze ve Beyin Dokusu Taramalı Elektron Mikroskobu
JoVE 신문
신경과학
This content is Free Access.
JoVE 신문 신경과학
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
DOI:

08:57 min

July 06, 2011

, ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

자동 번역

Bu protokol, taramalı elektron mikroskobu, reçine gömülü beyin dokusu, odaklanmış iyon demeti üç boyutlu olarak hazırlanmış ve yansıması nasıl açıklamaktadır.

Related Videos

Read Article