כאן אנו מציגים שיטה היסטולוגית ללכיד, סימון, ניקוי אופטי, והדמית ממשק רקמת המוח השלם סביב microdevices המושתל כרוני ברקמת מוח מכרסם. תוצאות מהטכניקות הכוללות בשיטה זו הן שימושיות להבנת ההשפעה של-שתלים במוח חודרניים שונים ברקמות המקיפות אותם.
Woolley, A. J., Desai, H. A., Gaire, J., Ready, A. L., Otto, K. J. Intact Histological Characterization of Brain-implanted Microdevices and Surrounding Tissue. J. Vis. Exp. (72), e50126, doi:10.3791/50126 (2013).