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전자 현미경 검사를 통한 피오피터 정밀 원자 위치 추적

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Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy

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전자 현미경 검사를 통한 피오피터 정밀 원자 위치 추적

DOI:

10.3791/62164-v

•

15:04 min

•

July 03, 2021

•

Leixin Miao, Adrian Chmielewski, Debangshu Mukherjee, Nasim Alem

¹Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, ²Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Chapitres

00:00Introduction
01:23Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
09:17Physical Information Extraction
12:22Representative Results
14:41Conclusion

Summary

Traduction automatique

이 작품은 원자 분해능 투과 전자 현미경 이미징에서 원자 위치 추적을 위한 워크플로우를 제공합니다. 이 워크플로우는 오픈 소스 Matlab 앱(EASY-STEM)을 사용하여 수행됩니다.

Tags

Keywords: Atomic Position Tracking Electron Microscopy Aberration Correction STEM Imaging Atomic Resolution Lattice Strain Defects Image Denoising Drift Correction Atom Column Quantification Overlapping Atoms MATLAB Application EasySTEM

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