Journal
/
Chimie
/
Пикометрическое точное отслеживание положения атомов с помощью электронной микроскопии
Journal JoVE
Chimie
Author Produced
This content is Free Access.
Journal JoVE Chimie
Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Пикометрическое точное отслеживание положения атомов с помощью электронной микроскопии

DOI:
10.3791/62164-v

•

15:04 min

•

July 03, 2021

•

, , ,
1Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, 2Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Chapitres

  • 00:00Introduction
  • 01:23Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
  • 09:17Physical Information Extraction
  • 12:22Representative Results
  • 14:41Conclusion

Summary

Traduction automatique

Traduction automatique

В данной работе представлен рабочий процесс для отслеживания положения атомов в электронной микроскопии с пропускания атомного разрешения. Этот рабочий процесс выполняется с помощью приложения Matlab с открытым исходным кодом (EASY-STEM).

Tags

Atomic Position TrackingElectron MicroscopyAberration CorrectionSTEM ImagingAtomic ResolutionLattice StrainDefectsImage DenoisingDrift CorrectionAtom Column QuantificationOverlapping AtomsMATLAB ApplicationEasySTEM

Article

Embed

AJOUTER À LA PLAYLIST

Usage Statistics

Vidéos Connexes

Улучшение качества Гетеропереход в Cu<sub> 2</sub> O на основе солнечных батарей за счет оптимизации атмосферного давления пространственного атомного слоя Деп<br /> Zn<sub> 1-х</sub> Mg<sub> х</sub> O

1,3,5-трифенилбензол и коранулен как электронный Рецепторы для лития сольватированного электрона Solutions

Характеризуя переноса электронов через биоплёнки жизни

Жидкости клеточной просвечивающей электронной микроскопии для отслеживания самостоятельной сборки наночастиц

Получение трехмерных карт химической энергией фильтруют передачи электронной микроскопии томография

Анализ минералов, производимые hFOB 1.19 и Saos-2 клетки с помощью просвечивающей электронной микроскопии с энергии энергодисперсионный рентгеновский микроанализ

С помощью графена жидкости клеток просвечивающей электронной микроскопии для изучения на месте Нанокристаллические травления

Расплавленной соли синтеза наночастиц сложных оксидов металлов

Подготовка графена-поддерживаемых Microwell жидких клеток для В Ситу передачи электронной микроскопии

Атомно-силовая микроскопия в сочетании с инфракрасной спектроскопией в качестве инструмента для исследования химии одиночных бактерий

Read Article