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Picometer-Präzisions-Atompositionsverfolgung durch Elektronenmikroskopie
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Journal JoVE Chimie
Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
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Picometer-Präzisions-Atompositionsverfolgung durch Elektronenmikroskopie

DOI:
10.3791/62164-v

•

15:04 min

•

July 03, 2021

•

, , ,
1Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, 2Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Chapitres

  • 00:00Introduction
  • 01:23Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
  • 09:17Physical Information Extraction
  • 12:22Representative Results
  • 14:41Conclusion

Summary

Traduction automatique

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Diese Arbeit stellt einen Workflow für die atomare Positionsverfolgung in der Elektronenmikroskopie der Atomauflösung vor. Dieser Workflow wird mit einer Open-Source-Matlab-App (EASY-STEM) durchgeführt.

Tags

Keywords: Atomic Position TrackingElectron MicroscopyAberration CorrectionSTEM ImagingAtomic ResolutionLattice StrainDefectsImage DenoisingDrift CorrectionAtom Column QuantificationOverlapping AtomsMATLAB ApplicationEasySTEM

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