/
/
Компактный объектив менее цифровой голографический микроскоп для MEMS осмотра и определения характеристик
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu. Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Chapitres
- 00:05Titre
- 01:05Preparations
- 03:52Data Acquisition
- 05:38Data Analysis for Static Measurements
- 06:40Sample Preparation and Data Analysis for Dynamic Measurements
- 07:42Results: CDHM Compared to Atomic Force Microscopy and Other Results
- 09:17Conclusion
Мы представляем компактное отражение цифровой голографической системы (CDHM) для проверки и определения характеристик устройств МЭМС. Линза-менее дизайн с использованием расходящийся входной волны обеспечивая естественную геометрическую увеличение демонстрируется. Как статические, так и динамические исследования представлены.
Tags
Compact Lens-less Digital Holographic MicroscopeMEMS InspectionMEMS CharacterizationOptical Full-field MeasurementsComputational TechniquesExperimental TechniquesSemiconductor IndustryMechanical PropertiesManufacturing StagesNon-contactReal-timeHigh-resolution3D MapReflective ObjectWafer InspectionOptics Reference TestingTransparent GeometryMicro-optics InspectionDiffractive Optics InspectionBioimagingCompact Digital Holographic Microscope (CDHM)Silicon Wafer CharacterizationGold Electrodes
