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Medições de tempo de vida transportadora em semicondutores através do método de decaimento de Fotocondutividade de microondas

JoVE Revista
Ingeniería

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JoVE Revista Ingeniería

Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method

Medições de tempo de vida transportadora em semicondutores através do método de decaimento de Fotocondutividade de microondas

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•

07:38 min

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April 18, 2019

DOI:

10.3791/59007-v

DOI:

10.3791/59007-v

•

07:38 min

April 18, 2019

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8 Views

Takato Asada, Yoshihito Ichikawa, Masashi Kato²

¹Department of Electrical & Mechanical Engineering,Nagoya Institute of Technology, ²Frontier Research Institute for Material Science,Nagoya Institute of Technology

Tags

Carrier Lifetime Semiconductor Microwave Photoconductivity Decay Micro-PCD 4H Silicon Carbide Aqueous Solution Pulsed Laser Photodiode Oscilloscope Microwave Waveguide Schottky Barrier Diode Gun Diode

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