Journal
/
/
MEMS Muayene ve Karakterizasyonu için kompakt Lens az Dijital Holografik Mikroskop
JoVE Revista
Ingeniería
Se requiere una suscripción a JoVE para ver este contenido.  Inicie sesión o comience su prueba gratuita.
JoVE Revista Ingeniería
Compact Lens-less Digital Holographic Microscope for MEMS Inspection and Characterization

MEMS Muayene ve Karakterizasyonu için kompakt Lens az Dijital Holografik Mikroskop

10,133 Views

10:28 min

July 05, 2016

DOI:

10:28 min
July 05, 2016

3 Views
, , , ,

Summary

Automatically generated

Biz MEMS cihazlarının muayene ve karakterizasyonu için kompakt bir yansıma dijital holografik sistemini (CDHM) sunuyoruz. Doğal geometrik büyütme sağlayan uzaklaşan giriş dalga kullanan bir lens daha az tasarım gösterilmiştir. Hem statik ve dinamik çalışmalar sunulmuştur.

Read Article