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Compact-Objektiv lose digitale holografische Mikroskop für MEMS-Inspektion und Charakterisierung
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Compact-Objektiv lose digitale holografische Mikroskop für MEMS-Inspektion und Charakterisierung
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10:28 min
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July 05, 2016
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Wir präsentieren eine kompakte Reflexion digitale holografische System (CDHM) zur Inspektion und Charakterisierung von MEMS-Bauelementen. Ein linsenloses Design einen divergierenden Eingangswelle bietet natürliche geometrische Vergrößerung verwendet wird demonstriert. Sowohl statische als auch dynamische Studien vorgestellt.
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Bourgade, T., Jianfei, S., Wang, Z., Elsa, R., Asundi, A. Compact Lens-less Digital Holographic Microscope for MEMS Inspection and Characterization. J. Vis. Exp. (113), e53630, doi:10.3791/53630 (2016).
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