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すべて電子ナノ秒分解走査型トンネル顕微鏡: 単一ドーパントの電荷ダイナミクスの調査を促進します。
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Ingenieurwesen
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JoVE Journal Ingenieurwesen
All-electronic Nanosecond-resolved Scanning Tunneling Microscopy: Facilitating the Investigation of Single Dopant Charge Dynamics

すべて電子ナノ秒分解走査型トンネル顕微鏡: 単一ドーパントの電荷ダイナミクスの調査を促進します。

DOI:

11:33 min

January 19, 2018

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Kapitel

  • 00:05Titel
  • 00:52Initial Setup of Microscope and Experiments
  • 02:05Preparation of the H-Si(100)-(2×1) Reconstruction
  • 04:20Assessing the Quality of the Pump-probe Pulses at the Tunnel Junction
  • 06:32Experiment 1: Time-resolved Scanning Tunneling Spectroscopy
  • 07:55Experiment 2: Time-resolved STM Measurements of Relaxation Dynamics
  • 08:47Experiment 3: Time-resolved STM Measurements of Excitation Dynamics
  • 09:27Results: Investigation of Single Dopant Change Dynamics
  • 10:43Conclusion

Summary

Automatische Übersetzung

走査型トンネル顕微鏡を用いたシリコン中のドーパント原子のナノ秒分解電荷ダイナミクスを観察するすべての電子方法を示す.

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