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March 24, 2023
DOI:
10.3791/64844-v
ここでは、シンプルでありながら効率的な低コストの粒子検出器を構築およびテストする方法に関するプロトコルを示します。
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Wallner, T., Bainschab, M., Klambauer, R., Bergmann, A. Additive Manufacturing-Enabled Low-Cost Particle Detector. J. Vis. Exp. (193), e64844, doi:10.3791/64844 (2023).
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