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Préparation de nanoparticules pour l’analyse ToF-SIMS et XPS
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Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis

Préparation de nanoparticules pour l’analyse ToF-SIMS et XPS

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06:24 min

September 13, 2020

DOI:

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September 13, 2020

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Un certain nombre de procédures différentes pour la préparation des nanoparticules pour l’analyse de surface sont présentées (coulée de goutte, revêtement de spin, dépôt de poudres et cryofixation). Nous discutons des défis, des opportunités et des applications possibles de chaque méthode, en particulier en ce qui concerne les changements dans les propriétés de surface causés par les différentes méthodes de préparation.

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