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Études ciblées utilisant le visage de bloc en série et la microscopie électronique focalisée de faisceau d'ion
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Targeted Studies Using Serial Block Face and Focused Ion Beam Scan Electron Microscopy
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Études ciblées utilisant le visage de bloc en série et la microscopie électronique focalisée de faisceau d'ion

français

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09:09 min

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August 10, 2019

DOI:

10.3791/59480-v

DOI:
10.3791/59480-v

•

09:09 min
August 10, 2019

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1VIB Bio Imaging Core, 2VIB Inflammation Research Center, 3Department of Molecular Biomedical Research,UGent

Summary

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Ici, nous présentons un protocole pour combiner efficacement la face de bloc de série et la microscopie électronique focalisée de faisceau d'ions pour cibler une zone d'intérêt. Cela permet une recherche efficace, en trois dimensions, et la localisation d'événements rares dans un grand champ de vision.

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Guérin, C. J., Kremer, A., Borghgraef, P., Lippens, S. Targeted Studies Using Serial Block Face and Focused Ion Beam Scan Electron Microscopy. J. Vis. Exp. (150), e59480, doi:10.3791/59480 (2019).

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