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Variations sur négatif tachent les méthodes de microscopie électronique : outils pour s’attaquer à contester les systèmes
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February 06, 2018
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Scarff, C. A., Fuller, M. J. G., Thompson, R. F., Iadanza, M. G. Variations on Negative Stain Electron Microscopy Methods: Tools for Tackling Challenging Systems. J. Vis. Exp. (132), e57199, doi:10.3791/57199 (2018).
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