Journal
/
Engineering
/
Metingen van de bodemkoolstof door Neutron-Gamma analyse in statische en modi scannen
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Measurements of Soil Carbon by Neutron-Gamma Analysis in Static and Scanning Modes
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Metingen van de bodemkoolstof door Neutron-Gamma analyse in statische en modi scannen

DOI:
10.3791/56270-v

•

07:51 min

•

August 24, 2017

•

, , ,
1National Soil Dynamics Laboratory,Agricultural Research Service, United States Department of Agriculture

Chapters

  • 00:05Title
  • 00:53Inelastic Neutron Scattering (INS) System Preparation
  • 02:34INS System Calibration
  • 05:17Field Soil Measurements
  • 06:08Results: Field Measurements of Carbon Content
  • 07:00Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Hier presenteren we het protocol voor in situ meting van de bodemkoolstof met behulp van het neutron-gamma techniek voor aanspreekpunt metingen (statische modus) of veld gemiddelden (scanmodus). Ook beschrijven we de bouw van het systeem en gegevens behandeling procedures uit te werken.

Tags

Soil CarbonNeutron-gamma AnalysisStatic ModeScanning ModeInelastic Neutron ScatteringGamma Ray AnalysisSoil Carbon MeasurementRestricted AreaNeutron GeneratorPower LevelData AcquisitionDetector CalibrationCaesium-137 SourceCalibration PitsSand-carbon Mixtures

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

Fabrication, verdichting, en Replica Molding van 3D Carbon Nanotube Microstructuren

Speciatie en biologische beschikbaarheid Metingen van Milieu Plutonium gebruik van Diffusion in Thin Films

Kwantificering van waterstof concentraties in Functionele Lagen en Bulk Materials door middel van diepte- met Nuclear Reaction Analysis

In detail Analyses LEDs door een combinatie van X-ray Computed Tomography (CT) en lichtmicroscopie (LM) gecorreleerd met Scanning Electron Microscopy (SEM)

Uitgebreide karakterisatie van Extended Defecten in Semiconductor Materials door een Scanning Electron Microscope

Het scannen van SQUID Studie van Vortex manipulatie door Local Contact

Twee-weg Valorisatie van hoogovenslakken: Synthese van neergeslagen calciumcarbonaat en Zeolitische Heavy Metal Adsorbent

Precisie Frezen van koolstof nanobuis Bossen Met behulp van Low Pressure Scanning Electron Microscopy

High Temperature Fabricage van nanostructuur yttriumoxide-gestabiliseerde Zirconia (YSZ) Steigers door<em> In Situ</em> Carbon Templating xerogels

Fabricage van 3D Koolstof Micro-Elektromechanische Systemen (C-MEMS)

Read Article