Journal
/
/
Фотоэмиссии с угловым разрешением спектроскопии при сверхнизких температурах
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Angle-resolved Photoemission Spectroscopy At Ultra-low Temperatures
DOI:

08:53 min

October 09, 2012

, , , , , , , , , ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 02:18Mounting the Sample
  • 03:01Achieving Ultra-high Vacuum and Thermal Isolation
  • 04:02Positioning and Cooling the Sample
  • 04:55Collecting Data
  • 05:30Results: High Resolution Electronic Structure of Crystals
  • 07:23Conclusion

Summary

Automatic Translation

Основная цель этого метода состоит в определении низких энергий электронной структуры твердых тел при сверхнизких температурах с помощью фотоэмиссии с угловым разрешением спектроскопии с синхротронного излучения.

Related Videos

Read Article