/
/
Фотоэмиссии с угловым разрешением спектроскопии при сверхнизких температурах
A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
17,396 Views
•
08:53 min
•
October 09, 2012
DOI:
1Institute for Solid State Research,IFW-Dresden, 2Institute of Metal Physics of National Academy of Sciences of Ukraine, 3Diamond Light Source LTD, 4Department of Physics,University of Johannesburg, 5CNR-SPIN, and Dipartimento di Fisica “E. R. Caianiello”,Università di Salerno, 6Institute of Physics of Complex Matter,École Polytechnique Fédérale de Lausanne
Summary
Automatically generated
Основная цель этого метода состоит в определении низких энергий электронной структуры твердых тел при сверхнизких температурах с помощью фотоэмиссии с угловым разрешением спектроскопии с синхротронного излучения.
Read Article
Cite this Article
Borisenko, S. V., Zabolotnyy, V. B., Kordyuk, A. A., Evtushinsky, D. V., Kim, T. K., Carleschi, E., Doyle, B. P., Fittipaldi, R., Cuoco, M., Vecchione, A., Berger, H. Angle-resolved Photoemission Spectroscopy At Ultra-low Temperatures. J. Vis. Exp. (68), e50129, doi:10.3791/50129 (2012).
Copy