/
/
Наноразмерная характеристика интерфейсов жидкость-твердое вещество путем сопряжения криофокусированного ионного пучка фрезерования со сканирующей электронной микроскопией и спектроскопией
É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo. Faça login ou comece sua avaliação gratuita.
Capítulos
- 00:04Introduction
- 00:29Scanning Electron Microscope (SEM) and Cryogenic Station Preparation
- 01:31Sample Vitrification
- 02:51Sample Surface Imaging and Feature Location
- 04:19Cross-Section Preparation
- 06:52Energy Dispersive X-Ray (EDX) Mapping
- 08:12Results: Representative Nanoscale Liquid-Solid Interface Characterization
- 10:24Conclusion
Методы криогенного сфокусированного ионного пучка (FIB) и сканирующей электронной микроскопии (SEM) могут дать ключевую информацию о химии и морфологии неповрежденных твердо-жидких интерфейсов. Методы подготовки высококачественных спектроскопических карт энергодисперсионного рентгеновского излучения (EDX) таких интерфейсов детализированы с акцентом на накопители энергии.
