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Caratterizzazione su scala nanometrica di interfacce liquido-solido mediante accoppiamento di fresatura a fascio ionico crio-focalizzato con microscopia elettronica a scansione e spettroscopia
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Nanoscale Characterization of Liquid-Solid Interfaces by Coupling Cryo-Focused Ion Beam Milling with Scanning Electron Microscopy and Spectroscopy
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Caratterizzazione su scala nanometrica di interfacce liquido-solido mediante accoppiamento di fresatura a fascio ionico crio-focalizzato con microscopia elettronica a scansione e spettroscopia

DOI:
10.3791/61955-v

•

11:03 min

•

July 14, 2022

•

, ,
1School of Applied and Engineering Physics,Cornell University, 2Kavli Institute at Cornell for Nanoscale Science

Capítulos

  • 00:04Introduction
  • 00:29Scanning Electron Microscope (SEM) and Cryogenic Station Preparation
  • 01:31Sample Vitrification
  • 02:51Sample Surface Imaging and Feature Location
  • 04:19Cross-Section Preparation
  • 06:52Energy Dispersive X-Ray (EDX) Mapping
  • 08:12Results: Representative Nanoscale Liquid-Solid Interface Characterization
  • 10:24Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

Le tecniche FIB (Cryogenic Focused Ion Beam) e SEM (Scanning Electron Microscopy) possono fornire informazioni chiave sulla chimica e la morfologia delle interfacce solido-liquido intatte. I metodi per la preparazione di mappe spettroscopiche a raggi X a dispersione di energia (EDX) di alta qualità di tali interfacce sono dettagliati, con particolare attenzione ai dispositivi di accumulo di energia.

Tags

Cryo-SEMFIBLiquid-solid InterfacesBiological SamplesSample PreparationCryogenic CoolingVitrificationScanning Electron MicroscopySpectroscopyNanoscale Characterization

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