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स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी और स्पेक्ट्रोस्कोपी के साथ क्रायो-केंद्रित आयन बीम मिलिंग युग्मन द्वारा तरल-ठोस इंटरफेस के नैनोस्केल लक्षण वर्णन
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Capítulos
- 00:04Introduction
- 00:29Scanning Electron Microscope (SEM) and Cryogenic Station Preparation
- 01:31Sample Vitrification
- 02:51Sample Surface Imaging and Feature Location
- 04:19Cross-Section Preparation
- 06:52Energy Dispersive X-Ray (EDX) Mapping
- 08:12Results: Representative Nanoscale Liquid-Solid Interface Characterization
- 10:24Conclusion
क्रायोजेनिक केंद्रित आयन बीम (एफआईबी) और स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (एसईएम) तकनीकें बरकरार ठोस-तरल इंटरफेस के रसायन विज्ञान और आकृति विज्ञान में महत्वपूर्ण अंतर्दृष्टि प्रदान कर सकती हैं। ऐसे इंटरफेस के उच्च गुणवत्ता वाले ऊर्जा फैलाव वाले एक्स-रे (ईडीएक्स) स्पेक्ट्रोस्कोपिक मानचित्र तैयार करने के तरीके ऊर्जा भंडारण उपकरणों पर ध्यान केंद्रित करने के साथ विस्तृत हैं।
