Journal
/
Engenharia
/
Рентгеновский луч индуцированных текущих измерений для мульти-модальной рентгеновской микроскопии солнечных клеток
JoVE Journal
Engenharia
This content is Free Access.
JoVE Journal Engenharia
X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Рентгеновский луч индуцированных текущих измерений для мульти-модальной рентгеновской микроскопии солнечных клеток

DOI:
10.3791/60001-v

•

00:10 min

•

August 20, 2019

•

, , , , , ,
1Deutsches Elektronen-Synchrotron, 2School of Electrical, Computer and Energy Engineering,Arizona State University, 3Department Physik,Universität Hamburg

Capítulos

  • 00:04Título
  • 01:12Measurement Environment Set-up
  • 03:07Pre-amplifier Setup
  • 04:13Lock-in Amplifier Setup
  • 05:36XBIC Measurements
  • 06:54Results: Lock-in Amplification Improves XBIC Measurements
  • 08:48Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

Описана установка рентгеновских лучей, индуцированных текущих измерений на синхротронных лучах. Он раскрывает наноразмерную производительность солнечных элементов и расширяет набор методов для мультимодальной рентгеновской микроскопии. От электропроводки до оптимизации сигнала и шума показано, как выполнять современные измерения XBIC на жестком рентгеновском микрозонде.

Tags

X-ray Beam Induced Current (XBIC)Multi-modal X-ray MicroscopySolar CellsCharge Collection EfficiencySemiconductor DevicesSample HolderPrinted Circuit BoardSpatial ResolutionGroundingBeam Footprint

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

Водохранилище Состояние пор масштаб Визуализация нескольких жидких фаз, используя рентгеновский микротомография

Энергия рентгеновской томографии для 3D Elemental карт индивидуальных наночастицами

Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография

Измерение рентгеновского луча когерентность вдоль нескольких направлениях с помощью 2-D Клетчатый фазовой дифракционной решетки

Видообразования и биодоступности Измерения окружающей среды плутонием диффузия в тонких пленках

Протокол испытаний Электрохимический и характеристика апротонных Li-O<sub> 2</sub> Аккумулятор

Динамический Поры масштабе пластового состояние визуализации реакции в карбонатных коллекторах с использованием синхротронного Fast томографии

В Depth Анализы светодиодов с помощью комбинации рентгеновской компьютерной томографии (КТ) и световой микроскопии (LM) коррелируют с сканирующей электронной микроскопии (SEM)

Применение рентгеновской визуализации спектроскопии кристаллов для использования в качестве высокотемпературной плазмы диагностики

Одновалентного катиона легирование CH<sub> 3</sub> NH<sub> 3</sub> PbI<sub> 3</sub> Для эффективного перовскита солнечных батарей

Read Article