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Medições de corrente induzida por feixe de raios x para microscopia de raios X multi-modal de células solares
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X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells

Medições de corrente induzida por feixe de raios x para microscopia de raios X multi-modal de células solares

DOI:
10.3791/60001-v

•

00:10 min

•

August 20, 2019

•

, , , , , ,
1Deutsches Elektronen-Synchrotron, 2School of Electrical, Computer and Energy Engineering,Arizona State University, 3Department Physik,Universität Hamburg

Capítulos

  • 00:04Título
  • 01:12Measurement Environment Set-up
  • 03:07Pre-amplifier Setup
  • 04:13Lock-in Amplifier Setup
  • 05:36XBIC Measurements
  • 06:54Results: Lock-in Amplification Improves XBIC Measurements
  • 08:48Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

Uma instalação para as medidas atuais induzidas feixe de raio X em linhas luz do síncrotron é descrita. Ele revela o desempenho de nanoescala de células solares e estende o conjunto de técnicas para microscopia de raios-X multimodal. Da fiação à optimização do sinal-à-ruído, mostra-se como executar medidas XBIC do estado---arte em um Microprobe duro do raio X.

Tags

X-ray Beam Induced Current (XBIC)Multi-modal X-ray MicroscopySolar CellsCharge Collection EfficiencySemiconductor DevicesSample HolderPrinted Circuit BoardSpatial ResolutionGroundingBeam Footprint

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