/
/
Bruke Synchrotron Radiation microtomography å etterforske Multi-skala Tredimensjonal Mikro Pakker
É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo. Faça login ou comece sua avaliação gratuita.
Capítulos
- 00:05Título
- 01:28Steps for Performing Tomography Scans at Beamline 8.3.2 (ALS, LBNL)
- 04:02Setting up the Scan Parameters Using the Data Acquisition Computer
- 04:54Results: Multi-scale Features Imaged in an Entire Micro-electronic Package Using Synchrotron Radiation Microtomography
- 06:11Conclusion
For denne studien synkrotronstråling mikro-tomografi, en ikke-destruktiv tredimensjonale avbildningsteknikk er anvendt for å undersøke en hel mikroelektroniske pakke med et tverrsnittsareal på 16 x 16 mm. På grunn av synkrotron høye flux og lysstyrke prøven ble fotografert i bare 3 min med en 8,7 mikrometer romlig oppløsning.
Tags
Synchrotron Radiation MicrotomographyThree-dimensional ImagingMicroelectronic PackagesNon-destructive TechniqueResolutionImage QualityData Acquisition TimeMaker Tomography Beam LineAdvanced Light SourceBerkeleyCaliforniaSemiconductor FieldElectronic PackagesReliability TestProcess DevelopmentExperimental FlexibilityX-ray SourceDefectsSample Holder
