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Capítulos
- 00:00Título
- 01:36Reference Interferometer Construction
- 03:01Free Spectral Range Measurement
- 03:57Fiber Pulling
- 06:46Preparation and Delivery of Solutions
- 12:43System Configuration and Interconnections
- 14:06Nanoparticle Detection
- 14:45Post-processing of Data
- 15:32Conclusion
Uma técnica interferômetro de referência, que é projetado para remover indesejável ruído jitter laser para nanodetection, é utilizado para sondar um fator microcavidade ultra-alta qualidade. Instruções de montagem, instalação e aquisição de dados são fornecidos, juntamente com o processo de medição para especificar o fator de qualidade da cavidade.
