/

공학

/

Het meten van sub-23 nanometer real driving particle number emissies met behulp van de Portable DownToTen Sampling System

JoVE 신문
공학

This content is Free Access.

JoVE 신문 공학

Measuring Sub-23 Nanometer Real Driving Particle Number Emissions Using the Portable DownToTen Sampling System

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Het meten van sub-23 nanometer real driving particle number emissies met behulp van de Portable DownToTen Sampling System

DOI:

10.3791/61287-v

•

08:59 min

•

May 22, 2020

•

Markus Bainschab, Lukas Landl, Jon Andersson, Athanasios Mamakos, Stefan Hausberger, Alexander Bergmann

¹Institute of Electrical Measurement and Sensor Systems,Graz University of Technology, ²Institute of Internal Combustion Engines and Thermodynamic,Graz University of Technology, ³Ricardo UK Ltd., ⁴AVL List GmbH

Chapters

00:04Introduction
00:46Exhaust Flow Meter (EFM) Installation
02:07DownToTen (DTT) Measurement System Preparation and Installation
03:51Measurement Operation
05:29Data Logging
06:30Results: Representative Particle Penetration and Particle Number Emission Analyses
08:06Conclusion

Summary

자동 번역

Hier wordt het DownToTen (DTT) draagbare emissiemeetsysteem gepresenteerd om de werkelijke uitstoot van deeltjes van sub-23 nm te beoordelen.

Tags

Keywords: Sub-23 Nanometer Particle Emissions Portable DownToTen Sampling System Horizon 2020 Project DownToTen Low Particle Losses Nano-sized Particles Exhaust Flow Meter Exhaust Gas Temperatures Synthetic Air-bottle Vacuum Pumps Condensation Particle Counters Mobile Measurement Unregulated Emissions Volatility Formation Mechanisms

Article

Embed

플레이리스트에 추가

Usage Statistics

Related Videos

Echo Particle Image Velocimetry

Karakterisering van Nanocrystal Size Distribution met Raman spectroscopie met een Multi-deeltje Phonon opsluiting Model

Ontwikkeling van een experimentele opstelling voor het meten van de Coëfficiënt van Restitutie onder vacuüm

Karakteriseren van Ver-infrarood laser emissies en het meten van hun frequenties

Ontwerp en gebruik van een Full Flow Sampling System (FFS) voor de kwantificering van methaan emissies

Sub-nanometer Resolution Imaging met amplitude-modulatie Atomic Force Microscopy in Liquid

Koelen van een Optisch Trapped ultrakoude Fermi Gas door Periodiek Driving

Gestandaardiseerde methode voor het meten verzamelefficiëntie van Veeg bemonsterde Trace explosieven

Gelijktijdige meting van turbulentie en Particle Kinematics met behulp van stroom beeldvormende technieken

Meting van de dynamische kracht gehandeld op Water Strider been omhoog springen door de PVDF Film Sensor

Read Article