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Caracterização em nanoescala de interfaces líquidas sólidas acoplando fresagem de feixe de íons focada em crio-focal com microscopia eletrônica de varredura e espectroscopia
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Nanoscale Characterization of Liquid-Solid Interfaces by Coupling Cryo-Focused Ion Beam Milling with Scanning Electron Microscopy and Spectroscopy

Caracterização em nanoescala de interfaces líquidas sólidas acoplando fresagem de feixe de íons focada em crio-focal com microscopia eletrônica de varredura e espectroscopia

DOI:
10.3791/61955-v

•

11:03 min

•

July 14, 2022

•

, ,
1School of Applied and Engineering Physics,Cornell University, 2Kavli Institute at Cornell for Nanoscale Science

章

  • 00:04Introduction
  • 00:29Scanning Electron Microscope (SEM) and Cryogenic Station Preparation
  • 01:31Sample Vitrification
  • 02:51Sample Surface Imaging and Feature Location
  • 04:19Cross-Section Preparation
  • 06:52Energy Dispersive X-Ray (EDX) Mapping
  • 08:12Results: Representative Nanoscale Liquid-Solid Interface Characterization
  • 10:24Conclusion

概要

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As técnicas de Feixe de Íons Focados Criogênicos (FIB) e Microscopia eletrônica de varredura (SEM) podem fornecer insights-chave sobre a química e a morfologia de interfaces de líquido sólido intacto. Os métodos para preparar mapas espectroscópicos de raios-X dispersivos de alta qualidade (EDX) de tais interfaces são detalhados, com foco em dispositivos de armazenamento de energia.

タグ

Cryo-SEMFIBLiquid-solid InterfacesBiological SamplesSample PreparationCryogenic CoolingVitrificationScanning Electron MicroscopySpectroscopyNanoscale Characterization

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