このコンテンツを視聴するには、JoVE 購読が必要です。 サインイン又は無料トライアルを申し込む。
ВС электронные решена НС сканирующий туннельный микроскопии: Содействие исследования динамики одного легирующего заряда
8,924 Views
•
11:33 min
•
January 19, 2018
DOI:
1物理学科,University of Alberta, 2National Institute for Nanotechnology,National Research Council of Canada, Edmonton, 3Max Planck Institute for the Structure and Dynamics of Matter, 4Max Planck Institute for Solid State Research, 5物理・天文学科,University of Manitoba, 6Joint Attosecond Science Laboratory,University of Ottawa
概要
Automatically generated
Мы показываем все электронного метода с сканирующий туннельный микроскоп наблюдать динамику решена НС заряда примеси атомов кремния.
Explore More Videos
Read Article
Cite this Article
Rashidi, M., Vine, W., Burgess, J. A., Taucer, M., Achal, R., Pitters, J. L., Loth, S., Wolkow, R. A. All-electronic Nanosecond-resolved Scanning Tunneling Microscopy: Facilitating the Investigation of Single Dopant Charge Dynamics. J. Vis. Exp. (131), e56861, doi:10.3791/56861 (2018).
Copy