Journal
/
Ingénierie
/
Выполнение газовых реакций in situ с закрытыми ячейками в просвечиваемом электронном микроскопе
Journal JoVE
Ingénierie
Author Produced
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu.  Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Journal JoVE Ingénierie
Performing In Situ Closed-Cell Gas Reactions in the Transmission Electron Microscope
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Выполнение газовых реакций in situ с закрытыми ячейками в просвечиваемом электронном микроскопе

DOI:
10.3791/62174-v

•

14:21 min

•

July 24, 2021

•

, , , , , , ,
1Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory, 2Protochips Inc., 3Department of Materials Science & Engineering,University of Michigan, 4Catalytic Carbon Transformation & Scale-up,National Renewable Energy Laboratory, 5Materials Science & Technology Division,Oak Ridge National Laboratory

Chapitres

  • 00:00Introduction
  • 01:40E-chip Preparation
  • 05:10Preparation of the CCGR-TEM Holder
  • 06:23Preparation of Experimental Setup
  • 07:59Residual Gas Analyzer (RGA) System
  • 10:52Running the Reaction
  • 12:46Representative Results
  • 13:29Summary

Summary

Traduction automatique

Traduction automatique

Здесь мы представляем протокол для проведения экспериментов in situ с газовой реакцией с закрытыми ячейками ТЕА, подробно описывая несколько широко используемых методов подготовки образцов.

Tags

In SituClosed-cell Gas ReactionCCGRScanning Transmission Electron MicroscopyCatalystsStructural MaterialsCarbon NanotubesReal-time AnalysisElevated TemperatureAtmospheric PressureSample PreparationPowder DepositionColloidal SuspensionE-chipMask

Article

Embed

AJOUTER À LA PLAYLIST

Usage Statistics

Vidéos Connexes

Выявление динамических процессов в жидкостях материалов с использованием жидкого сотовых просвечивающей электронной микроскопии

В Ситу Время-зависимой пробой диэлектрика в просвечивающий электронный микроскоп: возможность понять механизм Отказ в микроэлектронных устройств

Электрон Ченнелинг Контрастность изображений для быстрого III-V гетероэпитаксиального Характеристика

Исчерпывающая характеристика протяженных дефектов в полупроводниковых материалах на растровом электронном микроскопе

Изучение динамических процессов наноразмерных объектов в жидкости с помощью сканирующего просвечивающего электронного микроскопа

Метод для получения последовательного ультратонких разделы микроорганизмов в просвечивающей электронной микроскопии

Методы Ex Situ и In Situ исследования структурных преобразований: В случае кристаллизации металлических стекол

Масштабируемые квантовые интегрированные схемы на сверхпроводящей двухмерной газовой платформе

Однозначных нанометр электронно лучевая литография с исправления аберраций сканирования просвечивающий электронный микроскоп

В Situ передачи электронной микроскопии с смещения и изготовление асимметричных перекладин на основе смешанных фаз -VOх

Read Article