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Cryo-microscopie électronique à la préparation des échantillons au moyen d'un faisceau d'ions focalisés
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Cryo-electron Microscopy Specimen Preparation By Means Of a Focused Ion Beam
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Cryo-microscopie électronique à la préparation des échantillons au moyen d'un faisceau d'ions focalisés

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10:54 min

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July 26, 2014

DOI:

10.3791/51463-v

DOI:
10.3791/51463-v

•

10:54 min
July 26, 2014

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1Department of Engineering Sciences,Uppsala University, 2Gatan Inc., 3Department of Microbiology,Swedish University of Agricultural Sciences, 4Physics Department,University of Oslo

Summary

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Cryo Electron Microscope, soit à balayage (MEB) ou de transmission (TEM), sont largement utilisés pour la caractérisation des échantillons biologiques ou d'autres matériaux avec une forte teneur en eau 1. Une SEM / Focused Ion Beam (FIB) est utilisé pour identifier les caractéristiques d'intérêt dans des échantillons et extraire une lame mince, électron-transparent pour le transfert à un cryo-MET.

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Rubino, S., Melin, P., Spellward, P., Leifer, K. Cryo-electron Microscopy Specimen Preparation By Means Of a Focused Ion Beam. J. Vis. Exp. (89), e51463, doi:10.3791/51463 (2014).

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