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Haz de iones enfocado fresado y microscopía electrónica de barrido en el tejido cerebral
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Haz de iones enfocado fresado y microscopía electrónica de barrido en el tejido cerebral
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08:57 min
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July 06, 2011
DOI:
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Este protocolo describe cómo resina incrustada tejido cerebral puede ser preparado y fotografiado en las tres dimensiones en el haz de iones enfocado, microscopio electrónico de barrido.
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Focussed Ion Beam MillingScanning Electron MicroscopyFIB/SEM ProtocolAldehydes FixationHeavy Metal StainingOsmium TetroxideUranyl AcetateDehydrationResin InfiltrationUltramicrotomeGlass KnivesBlock PreparationVertical Face MillingBackscattered Electron ImagingSerial ImagingIsotropic VoxelsCell Ultrastructure Analysis
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Knott, G., Rosset, S., Cantoni, M. Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue. J. Vis. Exp. (53), e2588, doi:10.3791/2588 (2011).
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