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Kolokalisierung der Kelvin-Sondenkraftmikroskopie mit anderen Mikroskopien und Spektroskopien: Ausgewählte Anwendungen in der Korrosionscharakterisierung von Legierungen
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Capítulos
- 00:05Introduction
- 01:08Sample Preparation for Co-Localized Imaging of a Metal Alloy
- 02:11KPFM Imaging
- 06:51SEM, EDS, and EBSD Imaging
- 07:41KPFM, SEM, EDS, and EBSD Image Overlay and Analysis
- 09:37Results I: 3D Printed Ternary Ti Alloy: KPFM and SEM/EBSD
- 10:41Results II: Cross-Sectional Analysis of Zr Alloys for Nuclear Cladding: KPFM, SEM, and Raman
- 11:21Conclusion
Die Kelvin-Sondenkraftmikroskopie (KPFM) misst die Oberflächentopographie und Unterschiede im Oberflächenpotential, während die Rasterelektronenmikroskopie (REM) und zugehörige Spektroskopien die Oberflächenmorphologie, Zusammensetzung, Kristallinität und kristallographische Orientierung aufklären können. Dementsprechend kann die Co-Lokalisierung von REM mit KPFM Einblicke in die Auswirkungen der nanoskaligen Zusammensetzung und Oberflächenstruktur auf Korrosion liefern.
