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초점을 맞춘 이온 빔은 밀링 및 뇌 조직의 전자 현미경을 스캐닝

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Neurociencias

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Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue

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초점을 맞춘 이온 빔은 밀링 및 뇌 조직의 전자 현미경을 스캐닝

DOI:

•

08:57 min

•

July 06, 2011

•

Graham Knott, Stéphanie Rosset, Marco Cantoni

¹Centre of interdisciplinary electron microscopy,École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Capítulos

00:05Título
01:29Sample Fixation and Resin Embedding
04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
05:55Imaging the FIB/SEM
08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
08:40Conclusion

Summary

Traducción Automática

이 프로토콜은 수지 내장 뇌 조직은 전자 현미경을 스캐닝, 초점을 맞춘 이온 빔의 3 차원에 준비하고 몇 군데 수있는 방법에 대해 설명합니다.

Tags

Focussed Ion Beam Milling Scanning Electron Microscopy FIB/SEM Protocol Aldehydes Fixation Heavy Metal Staining Osmium Tetroxide Uranyl Acetate Dehydration Resin Infiltration Ultramicrotome Glass Knives Block Preparation Vertical Face Milling Backscattered Electron Imaging Serial Imaging Isotropic Voxels Cell Ultrastructure Analysis

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