Journal
/
Ingenieurwesen
/
Gransker enkelt molekyl Adhesjon av Atomic Force spektroskopi
JoVE Journal
Ingenieurwesen
Zum Anzeigen dieser Inhalte ist ein JoVE-Abonnement erforderlich.  Melden Sie sich an oder starten Sie Ihre kostenlose Testversion.
JoVE Journal Ingenieurwesen
Investigating Single Molecule Adhesion by Atomic Force Spectroscopy

Gransker enkelt molekyl Adhesjon av Atomic Force spektroskopi

DOI:
10.3791/52456-v

•

09:48 min

•

February 27, 2015

•

, , ,
1Physik-Department E22a,Technische Universität München, 2IMETUM,Technische Universität München

Kapitel

  • 00:05Titel
  • 01:25Tip Functionalization
  • 06:01Data Acquisition
  • 07:50Results: Single Molecule Adhesion of Polytyrosine on a Methyl-self-assembled Monolayer
  • 09:19Conclusion

Summary

Automatische Übersetzung

Automatische Übersetzung

A protocol to couple a large variety of single molecules covalently onto an AFM tip is presented. Procedures and examples to determine the adhesion force and free energy of these molecules on solid supports and bio-interfaces are provided.

Tags

Atomic Force SpectroscopySingle Molecule AdhesionSingle Molecule AttachmentTip PassivationAdhesion ForceAdhesion LengthFree EnergyPolytyrosinePI-g-PSPOPESAMsSupported Lipid Bilayers

Article

Embed

ZUR WIEDERGABELISTE HINZUFÜGEN

Usage Statistics

Verwandte Videos

Kompakte kvanteprikker for Single-molekylet Imaging

Skanning-probe Single-elektron Kapasitans spektroskopi

Enkelt Wavelength Shadow Imaging av<em> Caenorhabditis elegans</em> Locomotion Inkludert Force Estimater

Atomic Force Mikroskopi av Red-Light Fotoreseptorer Bruke PeakForce Kvantitativ Nanomechanical Eiendoms Mapping

Making Record-effektivitet SnS solceller av termisk fordampning og Atomic Layer Nedfall

Sub-nanometer Resolution Imaging med Amplitude-modulasjon Atomic Force Microscopy i væske

Kvantitativ analyse av vakuum induksjon smelting av laser-indusert Breakdown spektroskopi

En effektiv metode for selektiv desalinering av radioaktivt jod anioner ved hjelp av gull nanopartikler-Embedded membran Filter

Atomic Force Microscopy Cantilever-Based Nanoindentation: Mekaniske egenskapsmålinger på nanoskala i luft og væske

Aktiv sonde Atomic Force Microscopy med Quattro-Parallel Cantilever Arrays for høy gjennomstrømning storskala prøveinspeksjon

Read Article