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Kapitel
- 00:00Titel
- 01:36Reference Interferometer Construction
- 03:01Free Spectral Range Measurement
- 03:57Fiber Pulling
- 06:46Preparation and Delivery of Solutions
- 12:43System Configuration and Interconnections
- 14:06Nanoparticle Detection
- 14:45Post-processing of Data
- 15:32Conclusion
Una técnica de interferómetro de referencia, que está diseñado para eliminar el ruido de fluctuación de fase láser indeseable para nanodetection, se utiliza para sondear un factor microcavidad de ultra-alta calidad. Instrucciones para el ensamblaje, la instalación y adquisición de datos se proporcionan, junto con el proceso de medida para especificar el factor de calidad de la cavidad.
