Journal
/
/
Fokuserad jonstråle Fräsning och Svepelektronmikroskopi av hjärnvävnad
JoVE Journal
Neurowissenschaften
This content is Free Access.
JoVE Journal Neurowissenschaften
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
DOI:

08:57 min

July 06, 2011

, ,

Kapitel

  • 00:05Titel
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Automatische Übersetzung

Detta protokoll beskriver hur harts inbäddade hjärnvävnad kan förberedas och avbildas i de tre dimensioner i fokuserad jonstråle, svepelektronmikroskop.

Verwandte Videos

Read Article