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Haz de iones enfocado fresado y microscopía electrónica de barrido en el tejido cerebral
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Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
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Haz de iones enfocado fresado y microscopía electrónica de barrido en el tejido cerebral

DOI:
10.3791/2588-v

•

08:57 min

•

July 06, 2011

•

, ,
1Centre of interdisciplinary electron microscopy,École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Kapitel

  • 00:05Titel
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

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Este protocolo describe cómo resina incrustada tejido cerebral puede ser preparado y fotografiado en las tres dimensiones en el haz de iones enfocado, microscopio electrónico de barrido.

Tags

Focussed Ion Beam MillingScanning Electron MicroscopyFIB/SEM ProtocolAldehydes FixationHeavy Metal StainingOsmium TetroxideUranyl AcetateDehydrationResin InfiltrationUltramicrotomeGlass KnivesBlock PreparationVertical Face MillingBackscattered Electron ImagingSerial ImagingIsotropic VoxelsCell Ultrastructure Analysis

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