Journal
/
Neurowissenschaften
/
אלומת יונים ממוקדת כרסום מיקרוסקופיית אלקטרונים של רקמת המוח
JoVE Journal
Neurowissenschaften
This content is Free Access.
JoVE Journal Neurowissenschaften
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

אלומת יונים ממוקדת כרסום מיקרוסקופיית אלקטרונים של רקמת המוח

27,565 Views

•

08:57 min

•

July 06, 2011

DOI:

10.3791/2588-v

DOI:
10.3791/2588-v

•

08:57 min
July 06, 2011

•

1 Views
, ,
1Centre of interdisciplinary electron microscopy,École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Tags

Focussed Ion Beam MillingScanning Electron MicroscopyFIB/SEM ProtocolAldehydes FixationHeavy Metal StainingOsmium TetroxideUranyl AcetateDehydrationResin InfiltrationUltramicrotomeGlass KnivesBlock PreparationVertical Face MillingBackscattered Electron ImagingSerial ImagingIsotropic VoxelsCell Ultrastructure Analysis

Read Article

Cite this Article

Knott, G., Rosset, S., Cantoni, M. Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue. J. Vis. Exp. (53), e2588, doi:10.3791/2588 (2011).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy