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聚焦离子束铣削和脑组织的扫描电子显微镜

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Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue

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聚焦离子束铣削和脑组织的扫描电子显微镜

DOI:

•

08:57 min

•

July 06, 2011

•

Graham Knott, Stéphanie Rosset, Marco Cantoni

¹Centre of interdisciplinary electron microscopy,École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Kapitel

00:05Titel
01:29Sample Fixation and Resin Embedding
04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
05:55Imaging the FIB/SEM
08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
08:40Conclusion

Summary

Automatische Übersetzung

这个协议描述树脂嵌入脑组织如何准备和聚焦离子束在三个层面成像，扫描电子显微镜。

Tags

Focussed Ion Beam Milling Scanning Electron Microscopy FIB/SEM Protocol Aldehydes Fixation Heavy Metal Staining Osmium Tetroxide Uranyl Acetate Dehydration Resin Infiltration Ultramicrotome Glass Knives Block Preparation Vertical Face Milling Backscattered Electron Imaging Serial Imaging Isotropic Voxels Cell Ultrastructure Analysis

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