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通过电子显微镜进行精确原子位置跟踪

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Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy

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通过电子显微镜进行精确原子位置跟踪

DOI:

10.3791/62164-v

•

15:04 min

•

July 03, 2021

•

Leixin Miao, Adrian Chmielewski, Debangshu Mukherjee, Nasim Alem

¹Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, ²Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Chapters

00:00Introduction
01:23Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
09:17Physical Information Extraction
12:22Representative Results
14:41Conclusion

Summary

自动翻译

这项工作为原子分辨率传输电子显微镜成像中的原子位置跟踪提供了工作流程。此工作流使用开源马特拉布应用程序（EASY-STEM）执行。

Tags

Keywords: Atomic Position Tracking Electron Microscopy Aberration Correction STEM Imaging Atomic Resolution Lattice Strain Defects Image Denoising Drift Correction Atom Column Quantification Overlapping Atoms MATLAB Application EasySTEM

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