Journal
/
工程学
/
Bir imalat ve Van Der Waals Heteroepitaxy dayanan esnek bir Ferroelectric öğesi için ölçüm yöntemi
JoVE 杂志
工程学
Author Produced
需要订阅 JoVE 才能查看此.  登录或开始免费试用。
JoVE 杂志 工程学
A Fabrication and Measurement Method for a Flexible Ferroelectric Element Based on Van Der Waals Heteroepitaxy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Bir imalat ve Van Der Waals Heteroepitaxy dayanan esnek bir Ferroelectric öğesi için ölçüm yöntemi

DOI:
10.3791/57221-v

•

10:40 min

•

April 08, 2018

•

, , , ,
1Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education,Xiangtan University, 2Department of Physics,Indian Institute of Science, 3Department of Materials Science and Engineering,National Chiao Tung University

Chapters

  • 00:00Title
  • 00:41Fabricate the Flexible PZT Thin Film
  • 02:19Ferroelectric Characterization: Bending Test
  • 04:28Ferroelectric Characterization: Thermal Stability
  • 05:19Ferroelectric Characterization: Bending Cyclability Tests
  • 06:23Results: Ferroelectric Properties Under Bent and High Temperature
  • 08:41Conclusion

Summary

自动翻译

自动翻译

Bu yazıda, biz Moskof Mika esnek kurşun zirkonyum titanate bellek öğesini doğrudan bir Epitaksiyel henüz büyümeye bir iletişim kuralı mevcut.

Tags

Flexible Ferroelectric ElementVan Der Waals HeteroepitaxyPZT Thin FilmMica SubstratePLDSRO Bottom ElectrodePlatinum Top ElectrodeFerroelectric CharacterizationBending Test

Article

Embed

添加到播放列表

Usage Statistics

Related Videos

Bir Konsantre Fotovoltaik Sistemde Spectrum Yarma Dağılım Eleman Yüksek Kontrast Gratings imalatı

Silikon tabanlı Dielektrik Elastomer Aktüatörler Fabrikasyon Süreci

Gümüş Nanotel ile son derece Gerilebilir İletkenler için bir Fabrikasyon Yöntemi

İz Patlayıcı Wipe-örneklemenin toplama verimi ölçümü için standart yöntem

Deneysel yeni bir bileşik imalat yöntemi uygulanması: bileşik yüzeyi yumuşak katman yöntemi tarafından çıplak lifleri ortaya

Esnek görüntü sensörü imalatı Lateral NIPIN Phototransistors dayalı.

Esnek tek yönlü kompozit laminatlar kesme prosedürleri, çekme testi ve yaşlanma

Stimululated Raman saçılma dayalı doğrusal olmayan mikroskop uygulanması

Hassas rotasyonel hizalama ile Van der Waals Heterostructures imalatı

Temassız Rezonans Kavite Dielektrik Spektroskopik Çalışmalar için Yöntem Geliştirme Selülozik Kağıt

Read Article