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Characterization of Nanocrystal Size Distribution using Raman Spectroscopy with a Multi-particle Phonon Confinement Model
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Caratterizzazione di nanocristalli Dimensione distribuzione utilizzando Spettroscopia Raman con un Multi-particella Phonon confinamento Modello

DOI:
10.3791/53026-v

•

06:54 min

•

August 22, 2015

•

,
1Department of Applied Physics,Eindhoven University of Technology, 2Dutch Institute for Fundamental Energy Research

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:13Raman Spectroscopy of Nanocrystals
  • 04:01Determining the Size Distribution of the Nanocrystals
  • 05:38Results: Raman Spectroscopy Accurately Measures Particle Size
  • 06:35Conclusion

Summary

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Dimostriamo come determinare la distribuzione delle dimensioni dei nanocristalli semiconduttori in modo quantitativo utilizzando la spettroscopia Raman impiegando un multi-particella modello fononi confinamento analiticamente definiti. I risultati ottenuti sono in ottimo accordo con le altre tecniche di analisi dimensione come microscopia elettronica a trasmissione e la spettroscopia di fotoluminescenza.

Tags

Nanocrystal Size DistributionRaman SpectroscopyMulti-particle Phonon Confinement ModelSemiconductor NanocrystalsSize-dependent Phonon ConfinementNon-destructive Size AnalysisSilicon NanocrystalsTransmission Electron MicroscopyX-ray DiffractionPhotoluminescence Spectroscopy

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