/
/
Оценка синаптических кратности, используя поклеточного патч зажим электрофизиологии
A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
12,428 Views
•
10:52 min
•
April 23, 2019
DOI:
1Neuroscience Program, Schulich School of Medicine and Dentistry,University of Western Ontario, 2Robarts Research Institute, Schulich School of Medicine and Dentistry,University of Western Ontario, 3Department of Physiology and Pharmacology, Schulich School of Medicine and Dentistry,University of Western Ontario
Summary
Automatically generated
Здесь мы представляем протокол для оценки функциональных синаптических кратности, используя патч поклеточного зажим электрофизиологии острого мозга ломтиками.
Read Article
Cite this Article
Sunstrum, J. K., Inoue, W. Evaluation of Synaptic Multiplicity Using Whole-cell Patch-clamp Electrophysiology. J. Vis. Exp. (146), e59461, doi:10.3791/59461 (2019).
Copy