Journal
/
Engineering
/
Karakterisering van Surface Wijzigingen door Wit Licht Interferometrie: Toepassingen in Ion sputteren, Laser Ablatie en Tribologie Experimenten
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Characterization of Surface Modifications by White Light Interferometry: Applications in Ion Sputtering, Laser Ablation, and Tribology Experiments
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Karakterisering van Surface Wijzigingen door Wit Licht Interferometrie: Toepassingen in Ion sputteren, Laser Ablatie en Tribologie Experimenten

Nederlands

Automatically Generated

15,419 Views

•

11:47 min

•

February 27, 2013

DOI:

10.3791/50260-v

DOI:
10.3791/50260-v

•

11:47 min
February 27, 2013

•

4 Views
, , , , ,
1Materials Science Division,Argonne National Laboratory, 2Energy Systems Division,Argonne National Laboratory, 3MassThink LLC

Summary

Automatically generated

Wit licht microscoop interferometrie is een optische, contactloze en snelle methode voor het meten van de topografie van oppervlakken. Wordt getoond hoe de werkwijze kan worden toegepast in de richting mechanische slijtage analyse, waarbij slijtage littekens tribologische monsters worden geanalyseerd en in materiaalkunde om ionen sputteren of laserablatie volumes en diepte bepalen.

Explore More Videos

White Light InterferometryOptical ProfilometrySurface TopographyIon SputteringLaser AblationTribologySurface RoughnessWearDepth ProfilingMaterials Characterization

Read Article

Cite this Article

Baryshev, S. V., Erck, R. A., Moore, J. F., Zinovev, A. V., Tripa, C. E., Veryovkin, I. V. Characterization of Surface Modifications by White Light Interferometry: Applications in Ion Sputtering, Laser Ablation, and Tribology Experiments. J. Vis. Exp. (72), e50260, doi:10.3791/50260 (2013).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy