Journal
/
Neuroscience
/
הטיית מתח, Voltammetry מחזורי, & ספקטרוסקופיה חשמל התנגדות עבור ממשקי עצביות
JoVE Journal
Neuroscience
This content is Free Access.
JoVE Journal Neuroscience
Voltage Biasing, Cyclic Voltammetry, & Electrical Impedance Spectroscopy for Neural Interfaces
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

הטיית מתח, Voltammetry מחזורי, & ספקטרוסקופיה חשמל התנגדות עבור ממשקי עצביות

עברית

Automatically Generated

24,246 Views

•

07:51 min

•

February 24, 2012

DOI:

10.3791/3566-v

DOI:
10.3791/3566-v

•

07:51 min
February 24, 2012

•

9 Views
, , , , ,
1Weldon School of Biomedical Engineering,Purdue University, 2Biomedical Engineering,University of Wisconsin-Madison, 3Biomedical Engineering,University of Michigan , 4Department of Biological Sciences,Purdue University

Summary

Automatically generated

ממשק האלקטרודה, רקמות של אלקטרודות הקלטה עצביים ניתן לאפיין עם ספקטרוסקופית עכבה חשמלית (EIS) ו voltammetry מחזורית (CV). יישום יכולת הקלטה מתח הטיית שינויים במאפייני אלקטרוכימיים של ממשק אלקטרודה-רקמות והוא יכול להשתפר. מתח הטיית, EIS, קורות חיים, הקלטות עצביים משלימים.

Explore More Videos

Voltage BiasingCyclic VoltammetryElectrical Impedance SpectroscopyNeural InterfacesGlial Scar FormationCharge Carrying CapacityElectrode PerformanceLong Term MonitoringSpiking NeuronsRejuvenationElectrode Arrays

Read Article

Cite this Article

Wilks, S. J., Richner, T. J., Brodnick, S. K., Kipke, D. R., Williams, J. C., Otto, K. J. Voltage Biasing, Cyclic Voltammetry, & Electrical Impedance Spectroscopy for Neural Interfaces. J. Vis. Exp. (60), e3566, doi:10.3791/3566 (2012).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy