This content is Free Access.
Анализ одиночных частиц с высокой разрешающей способностью при электронно-микроскопической микроскопии Изображения с использованием SPHIRE
49,814 Views
•
13:28 min
•
May 16, 2017
DOI:
Özet
Automatically generated
В настоящем документе представлен протокол обработки крио-ЭМ изображений с использованием программного комплекса SPHIRE. Настоящий протокол может быть применен практически для всех одномерных ЭМ-проектов, нацеленных на решение задач с атомным разрешением.
Read Article
Cite this Article
Moriya, T., Saur, M., Stabrin, M., Merino, F., Voicu, H., Huang, Z., Penczek, P. A., Raunser, S., Gatsogiannis, C. High-resolution Single Particle Analysis from Electron Cryo-microscopy Images Using SPHIRE. J. Vis. Exp. (123), e55448, doi:10.3791/55448 (2017).
Copy