'Dergi'
/
Kimya
/
Yüksek Basınçlı PX de Tek Kristal Kırınımı ^ 2
JoVE Journal
Kimya
This content is Free Access.
JoVE Journal Kimya
High Pressure Single Crystal Diffraction at PX^2
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Yüksek Basınçlı PX de Tek Kristal Kırınımı ^ 2

DOI:
10.3791/54660-v

•

11:32 min

•

January 16, 2017

•

, , , , , ,
1Hawai’i Institute of Geophysics and Planetology,University of Hawai’i at Manoa, 2Center for Advanced Radiation Sources,University of Chicago

'Bölümler'

  • 00:05'Başlık'
  • 00:47Data Collection
  • 05:17Data Analysis
  • 08:57Results: High Pressure Single Crystal Diffraction on Omphacite
  • 10:29Conclusion

Özet

'Otomatik Çeviri'

'Otomatik Çeviri'

Bu yazıda Gelişmiş Foton Kaynak at GSECARS 13-BM-C beamline bir elmas örs hücre ile tek kristal X-ışını kırınım deneyleri yürütmek için ayrıntılı prosedürler açıklanmaktadır. ATREX ve RSV programları verileri analiz etmek için kullanılır.

'Etiketler'

High Pressure Single Crystal DiffractionCrystal StructureMineralsEarth’s Deep InteriorGeophysicsGeochemistryDiamond Anvil CellDACPowder DiffractionDetector CalibrationSample AlignmentScan W SoftwareTransmitted Beam Intensity

Article

Embed

'ÇALMA LİSTESİNE EKLE'

Usage Statistics

'İlgili Videolar'

CO Faz Dengeleri Ölçümleri için yüksek basınçlı Safir Hücre<sub> 2</sub> / / Organik Su Sistemleri

Deneysel Yöntemlerle ve yüksek Siderophile Eleman kapsama alınan terimler bastır için Protokolün: Yüksek Basınç ve Sıcaklık metal-silikat bölümleme

Yüksek yoğunluklu Barkod Antikor Mikroarray Akışı-desen Rehberli Fabrikasyon

Koruma Bilimi X-ışını Toz Kırınım: Miras Sanat Objects Korozyon Ürünleri Rutin Kristal Yapı Tayini Doğru

Gerçek Zamanlı Yüksek Çözünürlüklü Kütle Spektrometresi Doğrudan Analizi Kullanılarak Botanik Malzeme Hızlı Yüksek verim Türler Kimlik

Yüksek basınçlı Sıvı Kromatografi ile Glukosinolat Ekstraksiyon ve Analiz A Basit Yöntemi (HPLC)

Bukminsterfuleren Nanocrystals üzerinde gerçekleştirilen Femtosecond kırınım deneyler sırasında uzun menzilli elektronik korelasyon ölçümleri

Mikrosıvısal çip Situ Crystal x-ışını kırınım ve in Situ dinamik ışık saçılma seri kristalografisi için için

Tek metalik nanopartiküller yüksek çözünürlüklü fiziksel karakterizasyonu

Microcrystals yüksek viskozite ekstrüzyon için zaman karar vermek seri halinde Femtosecond kristalografisi x-ışını lazerleri iyileştirilmesi

Read Article